( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Inoue, Tomoo"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Design and Optimization of Transparency-Based TAM for SoC Test.

, , , , und . IEICE Trans. Inf. Syst., 93-D (6): 1549-1559 (2010)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Heide Inoue

Tomoyuki Inoue

Norman Inoue

Hiroko Inoue

Kenji Inoue

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Hybrid Test Application in Partial Skewed-Load Scan Design., , , und . IEICE Trans. Fundam. Electron. Commun. Comput. Sci., 94-A (12): 2571-2578 (2011)Design and Optimization of Transparency-Based TAM for SoC Test., , , , und . IEICE Trans. Inf. Syst., 93-D (6): 1549-1559 (2010)Universal Fault Diagnosis for Lookup Table FPGAs., , und . IEEE Des. Test Comput., 15 (1): 39-44 (1998)Difference between Standing and Seated Conversation over Meal toward Better Communication Support., und . CollabTech, Volume 460 von Communications in Computer and Information Science, Seite 62-76. Springer, (2014)Helping physical task learning by automatic adjustment of a virtual teacher's rotation angle., und . CSCWD, Seite 710-715. IEEE, (2011)Speakers' Empowerment with Keywords: The Speaking Competency Development for Multilingual to Contribute in a Real-Time Interaction., , , und . CRIWG, Volume 10391 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 148-163. Springer, (2017)Keyword generation by native speaker is quick and useful in conversation between native and non-native speaker., , und . CSCWD, Seite 145-150. IEEE, (2017)On the Complexity of Universal Fault Diagnosis for Look-up Table FPGAs., , und . Asian Test Symposium, Seite 276-281. IEEE Computer Society, (1997)Compact and accurate stochastic circuits with shared random number sources., , , , und . ICCD, Seite 361-366. IEEE Computer Society, (2014)Test Generation for Acyclic Sequential Circuits with Single Stuck-at Fault Combinational ATPG., und . DATE, Seite 11180-11181. IEEE Computer Society, (2003)