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Disambiguierung von "Snethen, Thomas J."

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Low cost at-speed testing using On-Product Clock Generation compatible with test compression.

, , , , , , , , und . ITC, Seite 724-733. IEEE Computer Society, (2010)

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Thomas J Wilson

Thomas -J Köster

Thomas J Lane

Thomas J Rödle

Thomas J Hagen

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Simulator-oriented fault test generator.. DAC, Seite 88-93. ACM, (1977)Low cost at-speed testing using On-Product Clock Generation compatible with test compression., , , , , , , , und . ITC, Seite 724-733. IEEE Computer Society, (2010)Efficient testing of hierarchical core-based SOCs., , , , , , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2014)Using Programmable On-Product Clock Generation (OPCG) for Delay Test., , , und . ATS, Seite 69-72. IEEE, (2007)Automated handling of programmable on-product clock generation (OPCG) circuitry for delay test vector generation., , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2007)A Simplified Method for Testing the IBM Pipeline Partial-Scan Microprocessor., , , und . Asian Test Symposium, Seite 321-326. IEEE Computer Society, (1999)A SmartBIST Variant with Guaranteed Encoding., , , , , und . Asian Test Symposium, Seite 325-. IEEE Computer Society, (2001)Minimizing the problem of logic testing by the interaction of a design group with user-oriented facilities., , , und . DAC, Seite 100-107. ACM, (1970)Design of an Efficient Weighted-Random-Pattern Generation System., , , und . ITC, Seite 491-500. IEEE Computer Society, (1994)Microprocessor test and test tool methodology for the 500 MHz IBM S/390 G5 chip., , , , , und . ITC, Seite 717-726. IEEE Computer Society, (1998)