Autor der Publikation

Concurrent error detection and fault-tolerance in linear analog circuits using continuous checksums.

. IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 1 (2): 138-150 (1993)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

On the C-Testability of Generalized Counters., und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 6 (5): 713-726 (1987)Dynamic Test Stimulus Adaptation for Analog/RF Circuits Using Booleanized Models Extracted From Hardware., , und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 39 (10): 2006-2019 (2020)Partial Reset Methodology and Experiments for Improving Random-Pattern Testability and BIST of Sequential Circuits., , und . J. Electron. Test., 14 (3): 259-272 (1999)Performance-Optimized Design for Parametric Reliability., , , , und . J. Electron. Test., 24 (1-3): 129-141 (2008)Real-time use-aware adaptive MIMO RF receiver systems for energy efficiency under BER constraints., , , und . DAC, Seite 56:1-56:7. ACM, (2013)Application of the Reactivity Index to Propose Intra and Intermolecular Reactivity in Catalytic Materials.. International Conference on Computational Science (3), Volume 3993 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 77-81. Springer, (2006)Test generation for specification test of analog circuits using efficient test response observation methods., und . Microelectron. J., 36 (9): 820-832 (2005)Time accelerated Monte Carlo simulations of biological networks using the binomial r-leap method., , , und . Bioinform., 21 (9): 2136-2137 (2005)Post-Manufacture Tuning for Nano-CMOS Yield Recovery Using Reconfigurable Logic., , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 18 (4): 675-679 (2010)Concurrent error detection and fault-tolerance in linear analog circuits using continuous checksums.. IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 1 (2): 138-150 (1993)