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Path Delay Measurement with Correction for Temperature And Voltage Variations., , und . ITC-Asia, Seite 112-117. IEEE, (2020)On Evaluation for Aging-Tolerant Ring Oscillators with Accelerated Life Test And Its Application to A Digital Sensor., , , und . ATS, Seite 1-6. IEEE, (2020)On-Chip Delay Measurement for In-Field Test of FPGAs., , und . PRDC, Seite 130-137. IEEE, (2019)An On-Chip Digital Environment Monitor for Field Test., , , und . ATS, Seite 254-257. IEEE Computer Society, (2014)Innovative Test Practices in Asia., , , , , , , , , und 3 andere Autor(en). VTS, Seite 1. IEEE, (2020)High-Precision PLL Delay Matrix With Overclocking and Double Data Rate for Accurate FPGA Time-to-Digital Converters., , , , , , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 28 (4): 904-913 (2020)On-Chip Test Clock Validation Using A Time-to-Digital Converter in FPGAs., , und . ITC-Asia, Seite 157-162. IEEE, (2019)On the effects of real time and contiguous measurement with a digital temperature and voltage sensor., , und . ITC-Asia, Seite 125-130. IEEE, (2017)Temperature and Voltage Estimation Using Ring-Oscillator-Based Monitor for Field Test., , , und . ATS, Seite 156-161. IEEE Computer Society, (2014)A Selection Method of Ring Oscillators for An On-Chip Digital Temperature And Voltage Sensor., , und . ITC-Asia, Seite 13-18. IEEE, (2019)