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Disambiguierung von "Uzzaman, Anis"

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Not all Delay Tests Are the Same - SDQL Model Shows True-Time.

, , , , , und . ATS, Seite 147-152. IEEE, (2006)

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Siegfried Anisch

Muhammad Anis

Luc Aniset

Natalia Anisimova

Helene Anissi

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Not all Delay Tests Are the Same - SDQL Model Shows True-Time., , , , , und . ATS, Seite 147-152. IEEE, (2006)Test Roles in Diagnosis and Silicon Debug., , , , , , und . ATS, Seite 367. IEEE, (2007)Optimizing Test Data Volume Using Hybrid Compression., , , , und . ATS, Seite 157-162. IEEE Computer Society, (2008)Is Low Power Testing Necessary? What does the Test Industry Truly Need?.. Asian Test Symposium, Seite 215-216. IEEE Computer Society, (2009)Early Life Cycle Yield Learning for Nanometer Devices Using Volume Yield Diagnostics Analysis., , , , , , , , , und . ATS, Seite 415-420. IEEE, (2006)Using Programmable On-Product Clock Generation (OPCG) for Delay Test., , , und . ATS, Seite 69-72. IEEE, (2007)Why is Conventional ATPG Not Sufficient for Advanced Low Power Designs?., , , , und . Asian Test Symposium, Seite 295-300. IEEE Computer Society, (2009)Automated handling of programmable on-product clock generation (OPCG) circuitry for delay test vector generation., , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2007)How To Increase the Effectiveness of Yield Diagnostics-Is DFM the Answer to This?. ATS, Seite 221. IEEE Computer Society, (2008)A Partially-Exhaustive Gate Transition Fault Model., , , und . Asian Test Symposium, Seite 361-364. IEEE Computer Society, (2009)