Autor der Publikation

Breakdown Lifetime Analysis of HfO2-based Ferroelectric Tunnel Junction (FTJ) Memory for In-Memory Reinforcement Learning.

, , , und . IRPS, Seite 1-6. IEEE, (2020)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen