Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Recursive Pseudo-Exhaustive Two-Pattern Generation., , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 18 (1): 142-152 (2010)Testability Analysis and Scalable Test Generation for High-Speed Floating-Point Units., , , und . IEEE Trans. Computers, 55 (11): 1449-1457 (2006)Anatomy of On-Chip Memory Hardware Fault Effects Across the Layers., und . IEEE Trans. Emerg. Top. Comput., 11 (2): 420-431 (April 2023)Bayesian network early reliability evaluation analysis for both permanent and transient faults., , , , , , , und . IOLTS, Seite 7-12. IEEE, (2015)The functional and performance tolerance of GPUs to permanent faults in registers., , und . IOLTS, Seite 236-239. IEEE, (2013)Effective Software Self-Test Methodology for Processor Cores., , , und . DATE, Seite 592-597. IEEE Computer Society, (2002)Deterministic software-based self-testing of embedded processor cores., , , , und . DATE, Seite 92-96. IEEE Computer Society, (2001)Effective Software-Based Self-Test Strategies for On-Line Periodic Testing of Embedded Processors., und . DATE, Seite 578-583. IEEE Computer Society, (2004)An Effective BIST Architecture for Sequential Fault Testing in Array Multipliers., , , und . VTS, Seite 252-259. IEEE Computer Society, (1999)Soft Errors: System Effects, Protection Techniques and Case Studies., , , und . DATE, ACM, (2008)