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A Sequential Circuit Test Generation System., und . ITC, Seite 57-61. IEEE Computer Society, (1985)At-Speed Logic BIST for IP Cores., , , , , , , , und . DATE, Seite 860-861. IEEE Computer Society, (2005)A Novel and Practical Control Scheme for Inter-Clock At-Speed Testing., , , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2006)At-Speed Logic BIST Architecture for Multi-Clock Designs., , , , und . ICCD, Seite 475-478. IEEE Computer Society, (2005)Logic BIST Architecture Using Staggered Launch-on-Shift for Testing Designs Containing Asynchronous Clock Domains., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). DFT, Seite 358-366. IEEE Computer Society, (2010)CSER: BISER-based concurrent soft-error resilience., , , , , und . VTS, Seite 153-158. IEEE Computer Society, (2010)Analysis of Resistive Bridging Defects in a Synchronizer., , , und . Asian Test Symposium, Seite 443-449. IEEE Computer Society, (2009)On Optimizing Fault Coverage, Pattern Count, and ATPG Run Time Using a Hybrid Single-Capture Scheme for Testing Scan Designs., , , , , , , , , und . DFT, Seite 143-151. IEEE Computer Society, (2008)Hybrid Built-In Self-Test Architecture for Multi-port Static RAMs., , , , , , , und . DFT, Seite 331-339. IEEE Computer Society, (2010)Using Launch-on-Capture for Testing Scan Designs Containing Synchronous and Asynchronous Clock Domains., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 30 (3): 455-463 (2011)