Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Effects of Temperature and Supply Voltage on Soft Errors for 7-nm Bulk FinFET Technology., , , , , und . IRPS, Seite 1-5. IEEE, (2021)Frequency, LET, and Supply Voltage Dependence of Logic Soft Errors at the 7-nm Node., , , , , und . IRPS, Seite 1-5. IEEE, (2021)Single-Event Latchup Vulnerability at the 7-nm FinFET Node., , , , und . IRPS, Seite 5. IEEE, (2022)Effects of Collected Charge and Drain Area on SE Response of SRAMs at the 5-nm FinFET Node., , , , und . IRPS, Seite 1-6. IEEE, (2023)Soft Error Characterization of D-FFs at the 5-nm Bulk FinFET Technology for the Terrestrial Environment., , , , , , , , , und 1 andere Autor(en). IRPS, Seite 7. IEEE, (2022)Total-Ionizing Dose Damage from X-Ray PCB Inspection Systems., , , , , , , , , und 1 andere Autor(en). IRPS, Seite 1-7. IEEE, (2024)Soft Error Rate Predictions for Terrestrial Neutrons at the 3-nm Bulk FinFET Technology., , , , und . IRPS, Seite 1-6. IEEE, (2023)Single-Event Performance of Flip Flop Designs at the 5-nm Bulk FinFET Node at Near-Threshold Supply Voltages., , , , und . IRPS, Seite 1-5. IEEE, (2024)Multiple Bit Upsets in Register Circuits at the 5-nm Bulk FinFET Node., , , , , und . IRPS, Seite 46. IEEE, (2024)