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On the Automation of the Test Flow of Complex SoCs., , , , , und . VTS, Seite 166-171. IEEE Computer Society, (2006)A Toolchain to Quantify Burn-In Stress Effectiveness on Large Automotive System-on-Chips., , , , , , , und . IEEE Access, (2023)Accelerated Analysis of Simulation Dumps through Parallelization on Multicore Architectures., , , , , , , und . DDECS, Seite 69-74. IEEE, (2021)Online scheduling of concurrent Memory BISTs execution at Real-Time Operating-System level., , , , , , , und . DFT, Seite 1-6. IEEE, (2022)A guided debugger-based fault injection methodology for assessing functional test programs., , , , , und . VTS, Seite 1-7. IEEE, (2023)A novel SEU injection setup for Automotive SoC., , , , , , , und . ISIE, Seite 623-626. IEEE, (2022)In-field Data Collection System through Logic BIST for large Automotive Systems-on-Chip., , , , , und . ITC, Seite 646-649. IEEE, (2022)A novel Pattern Selection Algorithm to reduce the Test Cost of large Automotive Systems-on-Chip., , , , , , und . LATS, Seite 1-6. IEEE, (2022)Exploiting Programmable BIST For The Diagnosis of Embedded Memory Cores., , , , , , und . ITC, Seite 379-385. IEEE Computer Society, (2003)Effective Screening of Automotive SoCs by Combining Burn-In and System Level Test., , , , , , , , , und . DDECS, Seite 1-6. IEEE, (2019)