( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Wang, Laung-Terng"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
On Guaranteeing Capture Safety in At-Speed Scan Testing with Broadcast-Scan-Based Test Compression.

, , , , , und . VLSI Design, Seite 279-284. IEEE Computer Society, (2013)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Andy Ch Laungani

Harn-Jing Terng

Terng-Yaw Lin

Wang Wang

Linfang Wang

Investigation of the functions of 53BP1 in DNA demethylation. Uni Marburg, (2009)
 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing Using CTX: A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme., , , , , , , und . IEICE Trans. Inf. Syst., 93-D (1): 2-9 (2010)Using Launch-on-Capture for Testing Scan Designs Containing Synchronous and Asynchronous Clock Domains., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 30 (3): 455-463 (2011)Low-Power Scan-Based Built-In Self-Test Based on Weighted Pseudorandom Test Pattern Generation and Reseeding., , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 25 (3): 942-953 (2017)VirtualScan: Test Compression Technology Using Combinational Logic and One-Pass ATPG., , , , , , und . IEEE Des. Test Comput., 25 (2): 122-130 (2008)A circular pipeline processing based deterministic parallel test pattern generator., , , und . ITC, Seite 1-8. IEEE Computer Society, (2013)Test compression and logic BIST at your fingertips., , , , und . ITC, Seite 2. IEEE Computer Society, (2005)Turbo1500: Toward Core-Based Design for Test and Diagnosis Using the IEEE 1500 Standard., , , , , , , , , und 6 andere Autor(en). ITC, Seite 1-9. IEEE Computer Society, (2008)On Achieving Capture Power Safety in At-Speed Scan-Based Logic BIST., , , , , , und . Asian Test Symposium, Seite 19-24. IEEE Computer Society, (2013)Logic BIST Architecture for System-Level Test and Diagnosis., , , , , , , , , und 5 andere Autor(en). Asian Test Symposium, Seite 21-26. IEEE Computer Society, (2009)Test data compression based on clustered random access scan., , , , , , , , und . ATS, Seite 231-236. IEEE, (2006)