Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

SIA Roadmap: test must not limit future technologies.. ITC, Seite 1152. IEEE Computer Society, (1998)Physically-Aware N-Detect Test., , , , , und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 31 (2): 308-321 (2012)Board manufacturing test correlation to IC manufacturing test., , , und . ITC, Seite 1-8. IEEE Computer Society, (2014)Industry leaders panel - How will testing change in the next 10 years?. ITC, Seite 1. IEEE Computer Society, (2011)How are failure modes, defect types and test methods changing for 32nm/28nm technologies and beyond?. ITC, Seite 1-4. IEEE Computer Society, (2012)Binning for IC Quality: Experimental Studies on the SEMATECH Data., , , und . DFT, Seite 4-10. IEEE Computer Society, (1998)MINVDD Testing for Weak CMOS ICs., , , und . VTS, Seite 339-345. IEEE Computer Society, (2001)Session Abstract.. VTS, Seite 44. IEEE Computer Society, (2006)ASIC Test Cost/Strategy Trade-offs., , , und . ITC, Seite 93-102. IEEE Computer Society, (1994)Application and Analysis of IDDQ Diagnostic Software., , und . ITC, Seite 319-327. IEEE Computer Society, (1997)