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Testing STT-MRAM: Manufacturing Defects, Fault Models, and Test Solutions., , , , , und . ITC, Seite 143-152. IEEE, (2021)Characterization and Test of Intermittent Over RESET in RRAMs., , , , , , , , und . ATS, Seite 1-6. IEEE, (2023)Smart Redundancy Schemes for ANNs Against Fault Attacks., , und . ETS, Seite 1-2. IEEE, (2022)Deterministic and Statistical Strategies to Protect ANNs against Fault Injection Attacks., , , und . PST, Seite 1-10. IEEE, (2021)Structured Test Development Approach for Computation-in-Memory Architectures., , und . ITC-Asia, Seite 61-66. IEEE, (2022)Memristor-Based Lightweight Encryption., , , , , , und . DSD, Seite 634-641. IEEE, (2023)Applying Thermal Side-Channel Attacks on Asymmetric Cryptography., , , , und . IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 29 (11): 1930-1942 (2021)RESCUE: Interdependent Challenges of Reliability, Security and Quality in Nanoelectronic Systems., , , , , , , , , und 8 andere Autor(en). CoRR, (2019)Device-Aware Test: A New Test Approach Towards DPPB Level., , , , , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE, (2019)Pinhole Defect Characterization and Fault Modeling for STT-MRAM Testing., , , , , , , , und . ETS, Seite 1-6. IEEE, (2019)