Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Test Considerations about the Structured ASIC Paradigm., und . DDECS, Seite 232-233. IEEE Computer Society, (2006)An Effective Technique for the Automatic Generation of Diagnosis-Oriented Programs for Processor Cores., , , , und . IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 27 (3): 570-574 (2008)Increasing the Fault Coverage of Processor Devices during the Operational Phase Functional Test., , , , und . J. Electron. Test., 30 (3): 317-328 (2014)A BIST-based Solution for the Diagnosis of Embedded Memories Adopting Image Processing Techniques., , , , , , und . J. Electron. Test., 20 (1): 79-87 (2004)Exploring the Mysteries of System-Level Test., , , , , , , , , und . CoRR, (2021)Parallel Multithread Analysis of Extremely Large Simulation Traces., , , , , , und . IEEE Access, (2022)An Adaptive Low-Cost Tester Architecture Supporting Embedded Memory Volume Diagnosis., und . IEEE Trans. Instrum. Meas., 61 (4): 1002-1018 (2012)An Optimized Test During Burn-In for Automotive SoC., , , , , , , und . IEEE Des. Test, 35 (3): 46-53 (2018)A novel SEU injection setup for Automotive SoC., , , , , , , und . ISIE, Seite 623-626. IEEE, (2022)Accelerated Analysis of Simulation Dumps through Parallelization on Multicore Architectures., , , , , , , und . DDECS, Seite 69-74. IEEE, (2021)