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Verification and Validation of Complex Digital Systems: An Industrial Perspective., und . ISQED, Seite 11-12. IEEE Computer Society, (2001)Forward prediction based on wafer sort data - A case study., , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2011)LEAF: A System Level Leakage-Aware Floorplanner for SoCs., , , , und . ASP-DAC, Seite 274-279. IEEE Computer Society, (2007)On Testing High-Performance Custom Circuits without Explicit Testing of the Internal Faults., , und . ITC, Seite 398-406. IEEE Computer Society, (2002)Minimizing outlier delay test cost in the presence of systematic variability., , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2009)Diagnosis of design-silicon timing mismatch with feature encoding and importance ranking - the methodology explained., , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2008)Design rewiring based on diagnosis techniques., , und . ASP-DAC, Seite 479-484. ACM, (2001)Efficient Algorithmic Circuit Verification Using Indexed BDDs., , , , und . FTCS, Seite 266-275. IEEE Computer Society, (1994)Automated Test Model Generation from Switch Level Custom Circuits., , , und . Asian Test Symposium, Seite 184-189. IEEE Computer Society, (2003)Thermal Aware Global Routing of VLSI Chips for Enhanced Reliability., , , , und . ISQED, Seite 470-475. IEEE Computer Society, (2008)