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Synthesis of Self-Testable Controllers., und . EDAC-ETC-EUROASIC, Seite 580-585. IEEE Computer Society, (1994)Analyzing and quantifying fault tolerance properties.. LATW, Seite 1. IEEE Computer Society, (2013)Fast Self-Recovering Controllers., , und . VTS, Seite 296-302. IEEE Computer Society, (1998)Are Robust Circuits Really Robust?, und . DFT, Seite 77-77. IEEE Computer Society, (2009)The Impact of Manufacturing Defects on the Fault Tolerance of TMR-Systems., und . DFT, Seite 101-108. IEEE Computer Society, (2010)Variation-Aware Test for Logic Interconnects using Neural Networks - A Case Study., , , und . DFT, Seite 1-6. IEEE, (2020)Analyzing Test and Repair Times for 2D Integrated Memory Built-in Test and Repair., , und . DDECS, Seite 185-190. IEEE Computer Society, (2007)Design-for-FAST: Supporting X-tolerant compaction during Faster-than-at-Speed Test., und . DDECS, Seite 35-41. IEEE, (2017)Synthese vollstaendig testbarer Schaltungen. Karlsruhe University, Germany, (1991)base-search.net (ftubkarlsruhe:oai:EVASTAR-Karlsruhe.de:25491).Signature Rollback - A Technique for Testing Robust Circuits., , , und . VTS, Seite 125-130. IEEE Computer Society, (2008)