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Disambiguierung von "Kassab, Mark"

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Isometric test compression with low toggling activity.

, , , , , , , und . ITC, Seite 1-7. IEEE Computer Society, (2014)

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Randa Kassab

Hisham Kassab

Talaat al- Kassab

Islam Yassin-Kassab

Tala'at Al-Kassab

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Timing-Aware ATPG for High Quality At-speed Testing of Small Delay Defects., , , , , , , , , und . ATS, Seite 139-146. IEEE, (2006)Test Generation for Designs with On-Chip Clock Generators., und . Asian Test Symposium, Seite 411-417. IEEE Computer Society, (2009)Efficient Prognostication of Pattern Count with Different Input Compression Ratios., , , , , , , und . ETS, Seite 1-2. IEEE, (2020)Test Compression Improvement with EDT Channel Sharing in SoC Designs., , , , , , , und . NATW, Seite 22-31. IEEE, (2014)Streaming Scan Network (SSN): An Efficient Packetized Data Network for Testing of Complex SoCs., , , , , , , , , und 3 andere Autor(en). ITC, Seite 1-10. IEEE, (2020)X-Press Compactor for 1000x Reduction of Test Data., , , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2006)Dynamic channel allocation for higher EDT compression in SoC designs., , , , , und . ITC, Seite 265-274. IEEE Computer Society, (2010)Clock control architecture and ATPG for reducing pattern count in SoC designs with multiple clock domains., , , und . ITC, Seite 114-123. IEEE Computer Society, (2010)Realizing High Test Quality Goals with Smart Test Resource Usage., , , , , , , und . ITC, Seite 525-533. IEEE Computer Society, (2004)EDT channel bandwidth management in SoC designs with pattern-independent test access mechanism., , , , , , und . ITC, Seite 1-9. IEEE Computer Society, (2011)