( en | de | ru )

 

Disambiguierung von "Jha, Devesh K."

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Depth estimation in Markov models of time-series data via spectral analysis.

, , , und . ACC, Seite 5812-5817. IEEE, (2015)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Deepti Jha

Development of a new cell penetrating peptide: design, synthesis and applications = Entwicklung eines neuen zell-penetrierenden Peptids. Uni Tübingen, (2009)

Vandana Jha

Abhinand Jha

Susmit Jha

Suman Jha

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Towards Human-Level Learning of Complex Physical Puzzles., , , , , , , , , und . CoRR, (2020)Local Policy Optimization for Trajectory-Centric Reinforcement Learning., , , , , , und . ICRA, Seite 5094-5100. IEEE, (2020)Constrained Dynamic Movement Primitives for Safe Learning of Motor Skills., , , , , , und . CoRR, (2022)Sim-to-Real Transfer Learning using Robustified Controllers in Robotic Tasks involving Complex Dynamics., , , , , und . ICRA, Seite 6001-6007. IEEE, (2019)Covariance Steering for Uncertain Contact-rich Systems., , und . ICRA, Seite 7923-7929. IEEE, (2023)Markov Modeling of Time Series via Spectral Analysis for Detection of Combustion Instabilities., , und . Handbook of Dynamic Data Driven Applications Systems, Springer, (2018)Efficient Exploration in Constrained Environments with Goal-Oriented Reference Path., , , , und . IROS, Seite 6061-6068. IEEE, (2020)Imitation and Supervised Learning of Compliance for Robotic Assembly., , , und . ECC, Seite 1882-1889. IEEE, (2022)Chance-Constrained Optimization in Contact-rich Systems., , , und . ACC, Seite 14-21. IEEE, (2023)Depth estimation in Markov models of time-series data via spectral analysis., , , und . ACC, Seite 5812-5817. IEEE, (2015)