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Novel High Voltage Bias Temperature Instabilities (HV-BTI) setup to monitor RON/VTH drift on GaN-on-Si E-mode MOSc-HEMTs under drain voltage.

C. Leurquin, W. Vandendaele, A. Viey, R. Gwoziecki, R. Escoffier, R. Salot, G. Despesse, F. Iucolano, R. Modica, und A. Constant. IRPS, Seite 10. IEEE, (2022)

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Disambiguierung von "Gwoziecki, Romain"